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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)
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產(chǎn)品分類
精密氣浮臺(tái)高低溫真空探針臺(tái)，600x600x200mm氣震臺(tái)，減震效果達(dá)97%，真空高低溫探針臺(tái)，凹視觀察窗，高精度探針滑臺(tái)。
更新時(shí)間：2024-03-27
產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z160T-RL
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小型氣敏探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T，4探針手動(dòng)調(diào)節(jié)，純銀加熱臺(tái)，-196℃至350℃（溫控精確±0.5）
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z4019MRL4T瀏覽量：1268微型高低溫探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測(cè)試。-196℃~400℃（配液氮致冷模塊）氣密腔室設(shè)計(jì)，可通保護(hù)氣氛
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z4019MRL4T瀏覽量：1222真空探針臺(tái)KT-Z160TZ，高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境，以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z160TZ瀏覽量：1234高溫真空探針臺(tái)KT-Z1604TZ，可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件，溫度可達(dá)到400℃。以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604TZ瀏覽量：1400
